فناوری نانو -مشخصه‌یابی نانو مواد به وسیله میکروسکوپ الکترونی عبوری (tem)- قسمت 2- روش آزمون
Nanotechnology- Nanomaterial Characterization by Transmition Electron Microscope (TEM) – Part 2:Test Method
شماره:
21950-2
سال انتشار:
1396
میکروسکوپی الکترونی عبوری (TEM) از جمله روش‌های مشخصه‌یابی است که علاوه بر توانایی تصویربرداری از ساختار ذرات در بزرگنمایی‌های بسیار بالا (با بررسی شدت پرتو عبوری از آزمونه و مقایسه آن با شدت پرتو اولیه)، قادر به بررسی ساختار بلوری (بر اساس قانون براگ و پراش باریکه الکترونی و ایجاد الگوهای پراش) و ترکیب شیمیایی (با تحلیل طول موج یا انرژی باریکه الکترونی پس از برهم کنش با آزمونه) می‌باشد.
ایجاد تصاویر با بزرگنمایی بسیار بالا امکان اندازه‌گیری و مشخصه یابی مواد در مقیاس نانو را به وسیله این میکروسکوپ را فراهم می‌نماید باریکه الکترونی عبوری از آزمونه بر اساس ضخامت عدد جرمی و چگالی آزمونه دچار پراکندگی و پراش کشسان و غیرکشسان شده و شدت هر یک از این پرتوهای پراکنده شده در نقاط مختلف آزمونه مبنای ایجاد اثری متناسب با آن شدت بر روی آشکارساز تصویر می‌شود. بنابراین تباین تصویری ایجاد شده و تصویری از آن تشکیل می‌شود.
همچنین این پرتوها با توجه به نوع و ترکیب شیمیایی آزمونه، با زاویه، شدت طول موج و انرژی مشخصی پراکنده می‌شوند. آشکارساز دستگاه با بررسی و آزمون طول موج و یا انرژی پرتو عبوری توانایی تعیین ترکیب شیمیایی مواد را نیز دارا خواهد بود.
از دیگر امکانات میکروسکوپ الکترونی عبوری توانایی تولید الگوهای پراش الکترونی از مواد دارای بافت بلوری است که بر اساس قانون براگ و همچنین ثابت دوربین دستگاه با اندازه‌گیری حلقه‌های پراش در الگوهای پراش، آزمونه قادر به تعیین خواص بلورشناختی ماده از جمله جهت دانه‌ها و صفحات بلوری متناظر با هر نقطه در الگو فاصله بین صفحات و همچنین پارامتر شبکه مواد بلوری می‌باشد.
هدف از تدوین این استاندارد
هدف از تدوین این استاندارد، ارائه روش آزمونی برای مشخصه‌یابی نانومواد به وسیلهٔ میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) است.
شماره استاندارد ملی ایران:
21950-2
سال انتشار:
1396
فناوری نانو -مشخصه‌یابی نانو مواد به وسیله میکروسکوپ الکترونی عبوری (tem)- قسمت 2- روش آزمون
Nanotechnology- Nanomaterial Characterization by Transmition Electron Microscope (TEM) – Part 2:Test Method
میکروسکوپی الکترونی عبوری (TEM) از جمله روش‌های مشخصه‌یابی است که علاوه بر توانایی تصویربرداری از ساختار ذرات در بزرگنمایی‌های بسیار بالا (با بررسی شدت پرتو عبوری از آزمونه و مقایسه آن با شدت پرتو اولیه)، قادر به بررسی ساختار بلوری (بر اساس قانون براگ و پراش باریکه الکترونی و ایجاد الگوهای پراش) و ترکیب شیمیایی (با تحلیل طول موج یا انرژی باریکه الکترونی پس از برهم کنش با آزمونه) می‌باشد.
ایجاد تصاویر با بزرگنمایی بسیار بالا امکان اندازه‌گیری و مشخصه یابی مواد در مقیاس نانو را به وسیله این میکروسکوپ را فراهم می‌نماید باریکه الکترونی عبوری از آزمونه بر اساس ضخامت عدد جرمی و چگالی آزمونه دچار پراکندگی و پراش کشسان و غیرکشسان شده و شدت هر یک از این پرتوهای پراکنده شده در نقاط مختلف آزمونه مبنای ایجاد اثری متناسب با آن شدت بر روی آشکارساز تصویر می‌شود. بنابراین تباین تصویری ایجاد شده و تصویری از آن تشکیل می‌شود.
همچنین این پرتوها با توجه به نوع و ترکیب شیمیایی آزمونه، با زاویه، شدت طول موج و انرژی مشخصی پراکنده می‌شوند. آشکارساز دستگاه با بررسی و آزمون طول موج و یا انرژی پرتو عبوری توانایی تعیین ترکیب شیمیایی مواد را نیز دارا خواهد بود.
از دیگر امکانات میکروسکوپ الکترونی عبوری توانایی تولید الگوهای پراش الکترونی از مواد دارای بافت بلوری است که بر اساس قانون براگ و همچنین ثابت دوربین دستگاه با اندازه‌گیری حلقه‌های پراش در الگوهای پراش، آزمونه قادر به تعیین خواص بلورشناختی ماده از جمله جهت دانه‌ها و صفحات بلوری متناظر با هر نقطه در الگو فاصله بین صفحات و همچنین پارامتر شبکه مواد بلوری می‌باشد.
هدف از تدوین این استاندارد
هدف از تدوین این استاندارد، ارائه روش آزمونی برای مشخصه‌یابی نانومواد به وسیلهٔ میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) است.