فناوری نانو-آنالیز با میکروباریکه- روش آنالیز با میکروسکوپ الکترونی عبوری tem -روش‌های کالیبراسیون بزرگنمایی تصویر با استفاده از مواد مرجع دارای ساختارهای متناوب
Nanotechnology- Microbeam Analysis — Analytical Transmission Electron Microscopy- Methods for Calibrating Image Magnification by Using Reference Materials Having Periodic structures
شماره:
21303
سال انتشار:
1395
میکروسکوپ الکترونی عبوری TEM به طور گسترده‌ای برای مطالعه نانو و میکروساختارها در موادی مانند نیم رساناها، فلزات نانوذرات پلیمرها سرامیک‌ها شیشه و مواد زیستی و غذایی مورد استفاده قرار می‌گیرد. این استاندارد ملی با توجه به نیاز کالیبراسیون بزرگنمایی تصویر تدوین شده است این استاندارد به توضیح الزامات کالیبراسیون بزرگنمایی تصویر در میکروسکوپ الکترونی عبوری با استفاده از یک ماده مرجع گواهی شده یا یک ماده مرجع دارای ساختارهای تناوبی می‌پردازد.
هدف از تدوین این استاندارد
هدف از تدوین این استاندارد تعیین مراحل کالیبراسیون است که برای تصاویر ثبت شده در محدوده وسیعی از بزرگنمایی به وسیله میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) استفاده می‌شود مواد مرجعی که برای این کالیبراسیون استفاده می‌شود دارای ساختار تناوبی مانند رپلیکای شبکه‌ای پراش، ساختار ابرشبکه‌ای نیم رسانا یا بلور آنالیزی برای آنالیز پرتو ایکس تصویر شبکه بلوری کربن، طلا یا نقره هستند. این استاندارد قابل استفاده در بزرگنمایی تصویر TEM است که روی فیلم‌های عکاسی یا صفحه تصویربرداری یا روی حسگر تصویری در دوربین رقمی ثبت شده باشد.
شماره استاندارد ملی ایران:
21303
سال انتشار:
1395
فناوری نانو-آنالیز با میکروباریکه- روش آنالیز با میکروسکوپ الکترونی عبوری tem -روش‌های کالیبراسیون بزرگنمایی تصویر با استفاده از مواد مرجع دارای ساختارهای متناوب
Nanotechnology- Microbeam Analysis — Analytical Transmission Electron Microscopy- Methods for Calibrating Image Magnification by Using Reference Materials Having Periodic structures
میکروسکوپ الکترونی عبوری TEM به طور گسترده‌ای برای مطالعه نانو و میکروساختارها در موادی مانند نیم رساناها، فلزات نانوذرات پلیمرها سرامیک‌ها شیشه و مواد زیستی و غذایی مورد استفاده قرار می‌گیرد. این استاندارد ملی با توجه به نیاز کالیبراسیون بزرگنمایی تصویر تدوین شده است این استاندارد به توضیح الزامات کالیبراسیون بزرگنمایی تصویر در میکروسکوپ الکترونی عبوری با استفاده از یک ماده مرجع گواهی شده یا یک ماده مرجع دارای ساختارهای تناوبی می‌پردازد.
هدف از تدوین این استاندارد
هدف از تدوین این استاندارد تعیین مراحل کالیبراسیون است که برای تصاویر ثبت شده در محدوده وسیعی از بزرگنمایی به وسیله میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) استفاده می‌شود مواد مرجعی که برای این کالیبراسیون استفاده می‌شود دارای ساختار تناوبی مانند رپلیکای شبکه‌ای پراش، ساختار ابرشبکه‌ای نیم رسانا یا بلور آنالیزی برای آنالیز پرتو ایکس تصویر شبکه بلوری کربن، طلا یا نقره هستند. این استاندارد قابل استفاده در بزرگنمایی تصویر TEM است که روی فیلم‌های عکاسی یا صفحه تصویربرداری یا روی حسگر تصویری در دوربین رقمی ثبت شده باشد.