فناوری نانو-مشخصه‌یابی نانو مواد با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی (sem) -روش آزمون
Nanotechnology - Characterization of Nanomaterials by Scanning Electron Microscope (SEM) - Test Method
شماره:
21259
سال انتشار:
1395
روش میکروسکوپی الکترونی روبشی (SEM) از جمله روش‌های مشخصه‌یابی است که علاوه بر توانایی تصویربرداری از ریز ساختار و ریخت‌شناسی ذرات در بزرگنمایی‌های ۱۰ الی ۱۰۰۰۰۰۰ برابر، ترکیب شیمیایی (با تحلیل طول موج یا انرژی باریکه الکترونی پس از اندرکنش با نمونه) مواد را نیز تعیین می‌نماید. این روش قدرت تفکیکی در حدود نانومتر به بالا را امکان‌پذیر می‌کند و لذا امکان مشخصه‌یابی مواد در مقیاس نانو به وسیله این میکروسکوپ فراهم است باریکه الکترونی تابیده شده به نمونه بر اساس توپوگرافی و ترکیب شیمیایی موضعی آن ناحیه با شدت و زوایای مشخصی دچار پراکندگی و پراش الاستیک و غیر الاستیک شده و به وسیلهٔ آشکارسازهای مختلف این تغییرات نمایان می‌شود. همچنین این پرتوها با توجه جنس و ترکیب نمونه با زاویه شدت طول موج و انرژی مشخصی منحرف می‌شوند. لذا آشکارساز دستگاه با بررسی و آنالیز طول موج (روش WDS) و یا انرژی (روش EDS) پرتوی عبوری توانایی تعیین ترکیب شیمیایی مواد را نیز دارا خواهد بود.
هدف از تدوین این استاندارد
هدف از تدوین این استاندارد ارائه روش آزمون برای مشخصه‌یابی نانومواد با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) شامل مراحل آماده‌سازی نانومواد، کالیبراسیون روش آزمون و نحوه گزارش‌دهی آزمون می‌باشد.
شماره استاندارد ملی ایران:
21259
سال انتشار:
1395
فناوری نانو-مشخصه‌یابی نانو مواد با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی (sem) -روش آزمون
Nanotechnology - Characterization of Nanomaterials by Scanning Electron Microscope (SEM) - Test Method
روش میکروسکوپی الکترونی روبشی (SEM) از جمله روش‌های مشخصه‌یابی است که علاوه بر توانایی تصویربرداری از ریز ساختار و ریخت‌شناسی ذرات در بزرگنمایی‌های ۱۰ الی ۱۰۰۰۰۰۰ برابر، ترکیب شیمیایی (با تحلیل طول موج یا انرژی باریکه الکترونی پس از اندرکنش با نمونه) مواد را نیز تعیین می‌نماید. این روش قدرت تفکیکی در حدود نانومتر به بالا را امکان‌پذیر می‌کند و لذا امکان مشخصه‌یابی مواد در مقیاس نانو به وسیله این میکروسکوپ فراهم است باریکه الکترونی تابیده شده به نمونه بر اساس توپوگرافی و ترکیب شیمیایی موضعی آن ناحیه با شدت و زوایای مشخصی دچار پراکندگی و پراش الاستیک و غیر الاستیک شده و به وسیلهٔ آشکارسازهای مختلف این تغییرات نمایان می‌شود. همچنین این پرتوها با توجه جنس و ترکیب نمونه با زاویه شدت طول موج و انرژی مشخصی منحرف می‌شوند. لذا آشکارساز دستگاه با بررسی و آنالیز طول موج (روش WDS) و یا انرژی (روش EDS) پرتوی عبوری توانایی تعیین ترکیب شیمیایی مواد را نیز دارا خواهد بود.
هدف از تدوین این استاندارد
هدف از تدوین این استاندارد ارائه روش آزمون برای مشخصه‌یابی نانومواد با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) شامل مراحل آماده‌سازی نانومواد، کالیبراسیون روش آزمون و نحوه گزارش‌دهی آزمون می‌باشد.