فناوری نانو – نانو ساخت – مشخصههای کنترلی کلیدی – قسمت 6 – 4: گرافن – اندازهگیری هدایت سطحی با استفاده از کاواک تشدیدی
"Nanotechnologies –Nanomanufacturing – Key control characteristics – Part 6-4: Graphene – Surface conductance measurement using resonant cavity"
شماره:
19758-6-4
سال انتشار:
1397
روش آزمون کاواک تشدیدی میکروموج برای اندازه گیری هدایت سطحی یک روش غیر تماسی، سریع حساس و دقیق است. این روش برای استفاده در استانداردها تحقیق و توسعه و همچنین کنترل کیفیت در ساخت نانو مواد کربنی دو بعدی (2D) مناسب است این شکلهای ورقه مانند و پوسته مانند کربنی میتوانند به صورت مواد گرافنی تک لایه یا چند لایه نازک اتمی جمع آوری شوند که این مواد میتوانند به صورت پشته شده تا خورده مچاله شده یا لوله شده در انواع نانو ساختارهای کربنی با ابعاد جانبی محدود به چند ده نانومتر قرار بگیرند بسیاری از این مواد جدید هستند و ویژگیهای فیزیکی و الکتریکی فوقالعادهای مانند شفافیت نوری نفوذپذیری حرارتی ناهمسانگرد و انتقال بار را از خود نشان میدهند که در بخشهای مختلف علمی، فناوری و کاربردهای تجاری بسیار مورد توجه هستند.
بسته به ریخت شناسی خاص چگالی حالتها و میزان بی نقصی ساختار، هدایت سطحی این مواد ممکن است از S تا حدود ۱۰ باشد. روشهای معمول اندازه گیری رسانایی سطحی جریان مستقیم (DC) جهت ایجاد اتصالات الکتریکی نیاز به دستگاه تست و اتصالات پیچیده ای دارد که اندازه گیریها را تحت تأثیر قرار داده و تغییر میدهد که این امر تشخیص خواص ذاتی ماده را مشکل میسازد. در عوض، روش اندازهگیری کاواک تشدیدی سریع و غیر تماسی است. بنابراین، برای استفاده در تحقیق و توسعه و محیطهای ساخت که در آن هدایت سطحی یک متغیر عملکردی مهم میباشد مناسب است. علاوه بر این، میتوان از آن برای اندازه گیری مشخصههای الکتریکی دیگر نانو ساختارها نیز استفاده کرد.
هدف از تدوین این استاندارد
هدف از تدوین این استاندارد ارائه یک روش برای تعیین هدایت سطحی ساختارهای نانو کربن گرافنی نازک در حد اتمی یک یا چند لایه دو بعدی (2D) میباشد.
شماره استاندارد ملی ایران:
19758-6-4
سال انتشار:
1397
فناوری نانو – نانو ساخت – مشخصههای کنترلی کلیدی – قسمت 6 – 4: گرافن – اندازهگیری هدایت سطحی با استفاده از کاواک تشدیدی
"Nanotechnologies –Nanomanufacturing – Key control characteristics – Part 6-4: Graphene – Surface conductance measurement using resonant cavity"
روش آزمون کاواک تشدیدی میکروموج برای اندازه گیری هدایت سطحی یک روش غیر تماسی، سریع حساس و دقیق است. این روش برای استفاده در استانداردها تحقیق و توسعه و همچنین کنترل کیفیت در ساخت نانو مواد کربنی دو بعدی (2D) مناسب است این شکلهای ورقه مانند و پوسته مانند کربنی میتوانند به صورت مواد گرافنی تک لایه یا چند لایه نازک اتمی جمع آوری شوند که این مواد میتوانند به صورت پشته شده تا خورده مچاله شده یا لوله شده در انواع نانو ساختارهای کربنی با ابعاد جانبی محدود به چند ده نانومتر قرار بگیرند بسیاری از این مواد جدید هستند و ویژگیهای فیزیکی و الکتریکی فوقالعادهای مانند شفافیت نوری نفوذپذیری حرارتی ناهمسانگرد و انتقال بار را از خود نشان میدهند که در بخشهای مختلف علمی، فناوری و کاربردهای تجاری بسیار مورد توجه هستند.
بسته به ریخت شناسی خاص چگالی حالتها و میزان بی نقصی ساختار، هدایت سطحی این مواد ممکن است از S تا حدود ۱۰ باشد. روشهای معمول اندازه گیری رسانایی سطحی جریان مستقیم (DC) جهت ایجاد اتصالات الکتریکی نیاز به دستگاه تست و اتصالات پیچیده ای دارد که اندازه گیریها را تحت تأثیر قرار داده و تغییر میدهد که این امر تشخیص خواص ذاتی ماده را مشکل میسازد. در عوض، روش اندازهگیری کاواک تشدیدی سریع و غیر تماسی است. بنابراین، برای استفاده در تحقیق و توسعه و محیطهای ساخت که در آن هدایت سطحی یک متغیر عملکردی مهم میباشد مناسب است. علاوه بر این، میتوان از آن برای اندازه گیری مشخصههای الکتریکی دیگر نانو ساختارها نیز استفاده کرد.
هدف از تدوین این استاندارد
هدف از تدوین این استاندارد ارائه یک روش برای تعیین هدایت سطحی ساختارهای نانو کربن گرافنی نازک در حد اتمی یک یا چند لایه دو بعدی (2D) میباشد.