ابزار و تجهیزات نقش مهمی در فناوری نانو ایفا می کنند به طوری که امروزه توسعه دنیای نانو، مرهون پیشرفت و تکامل ابزارهای شناسایی ریز ساختارها و خواص موضعی مواد است دستیابی و ساخت دستگاه‌های پیشرفته و ابداع روش‌های نوین سبب می‌شود تا ما بتوانیم رفتار مواد را به دقت شناسایی نموده و از این طریق آن‌ها را با ظرافت خاصی دستکاری. کنیم محققان با استفاده از روش‌ها و ابزارهای جدید بر محدودیت‌های نور، مرئی فائق آمدند به گونه‌ای که امروزه بزرگنمایی‌های بزرگتر از یک میلیون برابر (در مقیاس (سه بعدی) تا حد تفکیک اتمی) امکان پذیر است میکروسکوپ پروبی روبشی (SPM) یکی از این دستاوردها است که سطح ماده را با قدرت تفکیکی در مقیاس نانومتر روبش کرده و امکان تهیه تصاویر توپوگرافی یا نقشه‌هایی از یک خاصیت فیزیکی یا شیمیایی سطح ماده را فراهم می‌کند این میکروسکوپ دارای یک سوزن با قطری در مقیاس نانومتر است که در فاصله بسیار کوچکی از اتم‌های سطح نمونه قرار گرفته و سطح را روبش می‌کند این فاصله می‌تواند آن قدر کم باشد که الکترون‌های اتم‌های سوزن و سطح با هم تعامل داشته باشند و این تعاملات هم می‌توانند آن قدر قوی باشند که اتم‌ها را از جا کنده و به جای دیگری منتقل کنند گروه SPM شامل روش‌های مختلف تهیه تصویر و مطالعه سطح از جمله میکروسکوپی نیروی اتمی (AFM) و میکروسکوپی تونل زنی روبشی (STM) است. در حوزه میکروسکوپی پروبی روبشی اثرهای ناخواسته تصویری متعددی وجود دارند که می‌تواند از عوامل متعدد ناشی. شوند اثرهای ناخواسته بر کیفیت تصویر تأثیرگذار هستند و شناسایی سطح واقعی نمونه را مختل می‌کنند توانایی تشخیص اثرهای ناخواسته در تصویر و روش حذف آن به ارزیابی قابل اعتماد عملکرد دستگاه و گزارش نتایج کمک می‌کند. در این استاندارد به اثرهای ناخواسته تصویری ناشی از سوزن و روبش گر پرداخته شده است.