میکروسکوپ نیروی اتمی (مدل NAMA AFM)

میکروسکوپ نیروی اتمی (مدل NAMA AFM)
تعداد رای : ۱

میکروسکوپ پروبی روبشی از جمله ابزار تحقیقاتی قدرتمند و مدرن است که اجازه می‌‌دهد که مورفولوژی و خواص موضعی سطوح مختلف با تفکیک‌‌پذیری فضایی بالا در حد نانومتر، انجام پذیرد. در میکروسکوپ‌‌های پروبی روبشی، مشابه سایر روش‌‌های آنالیز روبشی (همچون میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM))، سطح نمونه روبش می‌‌شود و با اندازه‌‌گیری و پردازش سیگنال‌‌های به دست آمده از نقاط مختلف سطح روبش‌شده، تصویر تشکیل می‌‌گردد. قدرت تفکیک و بزرگنمایی میکروسکوپ‌‌های پروبی روبشی، بهتر از میکروسکوپ‌‌های الکترونی متداول است و امکان تهیه تصاویر سه بعدی از اتم‌‌ها را فراهم می‌‌آورد. علاوه بر تهیه تصویر، این تکنیک‌‌ها توانایی جابجایی اتم‌‌ها و قابلیت بررسی طیف وسیعی از مواد سخت، نرم، رسانا ، نیم‌‌رسانا، نارسانا، مغناطیسی و .... را دارند. همچنین این نوع میکروسکوپ ابزاری کلیدی برای ترسیم توپوگرافی (پستی و بلندی‌‌های) سطوح و نمایاندن تغییرات خواص فیزیکی و شیمیایی ساختارهایی نظیر ساختارهای مولکولی، در بازه مقیاسی از صدها میکرومتر تا محدوده نانومتر است. دو نوع متداول این میکروسکوپ‌ها، میکروسکوپ نیرو اتمی (AFM) و میکروسکوپ تونلی روبشی (STM) هستند.
در میکروسکوپ نیروی اتمی(AFM) مبنای تشکیل تصویر، نیروی بین سوزن و سطح نمونه است. این نوع میکروسکوپ دارای دو مد تماسی و غیر تماسی می‌باشد. در این میکروسکوپ، سطح نمونه با سوزنی تیز به طول 2 میکرومتر و قطر کمتر از 100 آنگستروم روبش می‌شود. سوزن در انتهای یک تیرک (cantilever) به طول 100 تا 200 میکرومتر قرار گرفته است. تیرک را معمولا از موادی می‌سازند که قابلیت ارتجاع بالایی داشته باشد. سر دیگر تیرک به بازوی پیزوالکتریک متصل می‌شود—ماژولی که وظیفه دارد طبق سیگنال‌های الکتریکی دریافتی از مدار کنترلی موقعیت پروب را در محور Z تنظیم کند. وقتی سوزن روی سطح نمونه کشیده می‌شود به دلیل پستی‌بلندی‌های سطح، نیرویی از طرف سطح به سوزن اعمال و موجب خمش و یا انحراف تیرک می‌شود. این انحرافات نسبت مستقیم با نیروی وارد شده به سوزن دارد. آشکارساز در این میکروسکوپ، معمولاً آرایه‌ای از دیودهای حساس به نور، حرکات کانتیلور را ثبت می‌کند و به کمک یک ماژول کامپیوتری با ارسال دستورات اصلاحی به بازوهای پیزوالکتریک متصل به پروب، موقعیت پروب نسبت به سطح اصلاح می‌شود. با تفسیر این سیگنال‌ها تصویری از پستی‌بلندی‌های سطحی ساخته می‌شود.
  • تصویربرداری سه‌بعدی از توپوگرافی سطح شامل زبری، اندازه دانه، ارتفاع پله‌ها و ناهمواری‌ها
  • تصویربرداری از سایر مشخصات نمونه نظیر میدان مغناطیسی، ظرفیت خازنی، اصطکاک و فاز
  • تحقیق و دست‌کاری سطوح تا مقیاس اتمی 
  • نانولیتوگرافی، نوشتن در مقیاس نانو، جابجایی اتم‌ها یا مولکول‌ها و ایجاد ساختارهای مصنوعی
NAMA-AFM یک میکروسکوپ نیروی اتمی پیشرفته است که قابلیت فراهم کردن تصاویر نانومقیاس دو بعدی و سه بعدی دقیق و واضح از سطوح را دارد. مشخصات میکروسکوپ AFM مدل NAMA AFM عرضه شده توسط تولیدکننده در جدول ارائه شده است.
filereader.php?p1=main_c4ca4238a0b923820
میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک ابزار منحصر به فرد برای تصویربرداری، مشخصه یابی و حتی مهندسی (نانولیتوگرافی) مواد در مقیاس نانو است. میکروسکوپ نیروی اتمی می تواند تصاویری با قدرت تفکیکی اتمی در مقیاس آنگستروم ارائه دهد (رزولوشن عرضی و ارتفاعی بهتر از 1/0 نانومتر است). 
  • دستگاه باید بر روی یک سطح سفت، در یک مکان خشک (بدون رطوبت) و تمیز نصب گردد.
  • برای نصب دستگاه، یک اتاق جدا و مخصوص انتخاب کنید. ترجیحاً محل نصب دستگاه در طبقه زیرزمین و کنار ستون‌ها باشد. به شدت توصیه می‌شود که هرگز تجهیز آزمایشگاهی دیگری را در کنار دستگاه قرار ندهید.
  • توصیه می‌شود در اتاق دستگاه از پوشش‌های ضد صوت و یا موکت برای کف اتاق استفاده کنید. این کار علاوه بر کاهش نویزهای صوتی سبب کاهش گرد و خاک نیز می‌شود.
  • کابل برق منابع نور طیف‌سنج به آداپتور AC مناسب با آن منبع و سپس آداپتور به پریز متصل به زمین با ولتاژ مناسب وصل شود.
  • تهیه یک میز جدا، کوچک و سنگین برای ماژول مکانیکی میکروسکوپ ضروری است.
  • از قرار دادن دستگاه در معرض مستقیم آفتاب و حرارت جلوگیری گردد. 
  • اتاق نصب از رطوبت کمی برخوردار باشد و در مناطقی از کشور که رطوبت زیاد است، از سیستم های کاهنده رطوبت استفاده گردد.

استاندارد های این محصول

  • گواهی نانومقیاس

    گواهی نانومقیاس

    تاریخ استاندارد : ۱۳۹۵/۱۲/۱۸

    تاریخ اعتبار : ۱۳۹۸/۱۲/۱۷

نظرات

نظرات

پاسخ به نظــر بازگشت به حالت عادی ثبت نظر

نـــام
ایمیل
نظر شما
کد امنیتی (حروف بزرگ)